鎢礦石、鉬礦石化學元素成分檢測儀

鎢礦石、鉬礦石元素成分檢測儀（基于X射線熒光光譜法/ICP光譜法）介紹

在礦產資源開發與利用領域，準確測定鎢礦石、鉬礦石中的元素成分至關重要。基于X射線熒光光譜法（XRF）和電感耦合等離子體光譜法（ICP）的鎢礦石、鉬礦石元素成分檢測儀，憑借其優勢成為行業得力工具。

X射線熒光光譜法檢測儀

XRF檢測儀基于X射線與物質相互作用產生熒光X射線的原理工作。當高能X射線照射到鎢礦石、鉬礦石樣品表面時，樣品中的原子內層電子被激發，外層電子躍遷*空位，釋放出具有特定能量的熒光X射線。不同元素發出的熒光X射線能量不同，通過檢測這些射線的能量和強度，就能確定樣品中元素的種類和含量。

該檢測儀具有諸多優點。首先，它是一種無損檢測技術，無需對樣品進行復雜的預處理，保留了樣品的原始狀態，減少了因樣品處理帶來的誤差。其次，檢測速度快，能在短時間內完成對多種元素的同時分析，大大提高了檢測效率，適合大規模礦石樣品的快速篩查。再者，操作相對簡便，對操作人員的技術要求不高，經過簡單培訓即可上手。此外，儀器穩定性好，長期使用仍能保持較高的檢測精度。不過，XRF檢測儀對于輕元素的檢測靈敏度相對較低，且在分析復雜基體樣品時可能存在基體效應干擾，需要采用合適的校正方法。

儀器技術性能

真正實現在現場進行無損,快速,準確的檢測,直接顯示元素的ppm含量與百分比含量。

只需將礦石分析儀直接接觸待測礦石表面，無須等待和花費時間即可現場確定礦石等級。

被檢測的樣品的對象可以是礦石、巖石、礦渣、碎片;土壤、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層;廢水、廢油等等的固體、液體物質。

快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識別元素。

用戶化windows CE 6.0系統驅動的微電腦顯示系統使所有功能皆可現場完成，用戶化windows CE僅保留有windows與Delta系統有關的性能，使程序更具靈活性。

無需借助電腦，可在現場隨意，查看，放大相關元素的光譜圖。

防塵,防霧,防水：一體機設計，軟膠與塑膠部件凹凸槽構造設計，使儀器具有很好的三防性能，可承受惡劣的工作環境,大霧,下雨,塵土飛揚工裝場地也能正常工作。

超大功率。40KV，100mA高達4W的大功率X射線管技術使儀器具有更低檢測下限。

腰帶、槍套、肩帶能將儀器牢牢地固定在你的腰部，可在野外活動自如。

更高的檢測精度，多次測試的平均值統計功能可有效地提高儀器的檢測精度。

超大的圖標顯示，菜單式驅動，微電腦WINDOWS系統使儀器操作更加簡便。

電磁干擾被屏蔽，即使在靠近手機或雙向無線通信裝置處也能正常工作。

儀器元素分析范圍

可分析從從鎂(Mg)到钚(Pu)之間的所有83種元素。

電感耦合等離子體光譜法檢測儀

ICP光譜儀利用高頻電感耦合等離子體作為激發光源，將樣品溶液霧化后引入等離子體，樣品中的原子被激發至高能態，當原子從高能態躍遷回低能態時，會發射出特定波長的光譜線。通過檢測這些光譜線的波長和強度，就能確定樣品中元素的種類和含量。

ICP光譜儀的檢測精度好，能夠準確測定鎢礦石、鉬礦石中痕量元素的含量，對于研究礦石的成因、品質評估等具有重要意義。它的線性范圍寬，可同時分析高、低含量元素，滿足不同礦石樣品的檢測需求。而且，基體干擾小，對復雜基體樣品的適應性強。但ICP光譜儀需要對樣品進行溶解等預處理，操作過程相對復雜，且儀器成本較高，運行維護費用也相對昂貴。

無論是基于X射線熒光光譜法還是ICP光譜法的鎢礦石、鉬礦石元素成分檢測儀，都在礦石分析領域發揮著重要作用，用戶可根據實際需求選擇合適的儀器。

 儀器技術參數：

  1、輸入電源：電壓交流220V，電流20A。

  2、采用CzernyTurner型光路，焦距為1000mm。

  3、離子刻蝕全息光柵，刻劃面積（80×110）mm。

  4、全自動一鍵點火，自動匹配，點火穩定、便捷。

  5、采用同心圓霧化器搭配旋流霧室，1ppmMn強度＞1000000cps。

  6、分辨率（Mn257、610nm）：≤0、005nm（4320刻線光柵）；≤0、008nm（3600刻線光柵）；≤0、015nm（2400刻線光柵）。

  7、波長范圍：190-460nm（4320刻線光柵）；190-500nm（3600刻線光柵）；190-800nm（2400刻線光柵）

  8、自主研發全固態射頻電源，輸出功率800-1600W,連續可調，電源效率大于65%，工作頻率27、12MHz，頻率穩定性＜0、05%，功率輸出穩定性＜0、05%。

詳細指標參數如下：

說明：下表為檢定用溶液標準

表A.1 檢定波長用標準溶液

                            表A.2 工作曲線系列標準溶液               單位：mg/L

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